
von Sanjie Liu, Xinhe Zheng
Dieses Buch ist eine spezialisierte Monografie, die die Abscheidung und Anwendung von hochwertigen Aluminiumnitrid (AlN)-Dünnschichten untersucht, die bei niedrigen Temperaturen mittels plasmaunterstützter Atomlagenabscheidung (PEALD) gewachsen sind. Es beschreibt detailliert, wie PEALD die Einschränkungen herkömmlicher Hochtemperaturmethoden überwindet und das Wachstum von kristallinem AlN mit scharfen Grenzflächen und ausgezeichneter Gleichmäßigkeit auf temperaturempfindlichen Substraten wie Silizium und GaAs ermöglicht. Das Buch präsentiert systematisch die Forschung der Autoren und deckt Prozessoptimierung, Grenzflächentechnik sowie die grundlegende Beziehung zwischen Abscheidungsparametern und Schichteigenschaften ab. Darüber hinaus hebt es die funktionelle Anwendung dieser Schichten in Spitzenfeldern hervor und demonstriert ihre Rolle als Passivierungs- und Grenzflächenmodifikationsschichten zur signifikanten Steigerung der Leistung von nanophotonischen Emitter-Arrays und quantenpunkt-sensibilisierten Solarzellen. Insgesamt bietet es einen umfassenden Leitfaden von den materialwissenschaftlichen Grundlagen bis hin zur Integration fortschrittlicher optoelektronischer und energetischer Bauelemente.
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Maße: 22.0 x15.0 x1.3 cm
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